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Image SXM 205-1

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Antivirus-Bericht

Veröffentlicht von Steve Barrett am 15 Mar 2021

"NIH Bild für Scanning-Mikroskopie"

Bild SXM ist eine Version von dem öffentlichen Bereich Bildanalyse-Software NIH-Bild, das erweitert worden ist, um das Laden, Anzeige und Analyse von Rastermikroskop zu behandeln. Bild SXM unterstützt SAM, SCM, SEM, SFM, SLM, SNOM, SPM und STM-Bilder von den folgenden Systemen: Asylum Research, Burleigh Instruments, Digital Instruments Nanoscope II-III-IV, DME Rasterscope, DME Oberflächendatendatei, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Molecular Imaging PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf easyscan, Nanotec Electronica WSxM, Noran Instruments Vantage, NT -MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instruments TopSystem, Park Scientific Instruments HFS-LIF, Park Scientific Instruments HDF, Philips SEM, Quesant Instruments, RHK Technologie SPM-32, RHK Technologie XPM Pro, Seiko Instruments (SIINT) SPI, Specs STM Aarhus, Thermomicro, Topometrix SPMLab, Unisoku, Vakuumerzeuger SAM, Veeco Innova, WA Technologie, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM.

Was ist neu in dieser Version?: * VVG Stain Analysis item added to the MIASMA menu * Minor changes opening and processing SNOM images